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TS400-R-Y 温控探针系列

简要描述:简要描述:
TS400-R-Y 温控探针系列专门针对材料电学测试而设计的一款产品,温度范围为-196~400℃,全程温度稳定性控制0.5℃以内,采用四探针法可表征材料升温和降温阶段电阻率随温度变化的特征。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-03-25
  • 访  问  量:150

详细介绍

品牌其他品牌应用领域化工,地矿,电子,航天,电气
温度范围-196~400℃温度分辨率0.1℃
控温精度0.5℃升温速率(1-30)K/min 程序控制
降温速率(1-20)K/min 程序控制

    冷热台广泛应用于半导体、高分子聚合物、液态晶体、冶金等各种研究领域。冷热台可以跟光学显微镜、共聚焦显微镜、激光拉曼、傅里叶红外光谱仪、X射线衍射仪等设备联用,用于材料在变温条件下的研究和表征。

    TS400-R-Y 温控探针系列专门针对材料电学测试而设计的一款产品,温度范围为-196~400℃,全程温度稳定性控制0.5℃以内,采用四探针法可表征材料升温和降温阶段电阻率随温度变化的特征。

TS400-R-Y 温控探针系列特点

1、可表征材料在升温和降温时段电阻率随温度变化

2、四线法测量材料电阻率,可消除接触电阻影响

3、测量薄膜和块体材料,适用于多种应用场景 升降温速率快,可大幅缩短测试时间 紧凑结构设计,占地空间小

参数规格

项目

技术参数

温控参数

温度范围

-196~400℃


温度分辨率

0.1℃


控温精度

0.5℃


加热方式

加热棒加热


升温速率

1-30)K/min 程序控制


降温速率

1-20)K/min 程序控制

电学参数

测试物理量

变温过程中电阻率连续采集


电阻率测试误差

≤10%


重复测试误差

≤3%


电阻测量范围

1×10-6Ω~ 1×108Ω

其它参数

真空度

≤1Pa


主机尺寸

140m*100mm*60mm


整机功率

250W


主机净重

0.8Kg


温控器尺寸

480mm(W)× 360mm(D)× 160mm(H)

测试图谱

采用四探针法测量电阻率

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