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| 品牌 | 其他品牌 | 应用领域 | 化工,地矿,电子,航天,电气 |
|---|---|---|---|
| 温度范围 | -196~400℃ | 温度分辨率 | 0.1℃ |
| 控温精度 | 0.5℃ | 升温速率 | （1-30）K/min 程序控制 |
| 降温速率 | （1-20）K/min 程序控制 |
冷热台广泛应用于半导体、高分子聚合物、液态晶体、冶金等各种研究领域。冷热台可以跟光学显微镜、共聚焦显微镜、激光拉曼、傅里叶红外光谱仪、X射线衍射仪等设备联用，用于材料在变温条件下的研究和表征。
TS400-R-Y 温控探针系列专门针对材料电学测试而设计的一款产品，温度范围为-196~400℃，全程温度稳定性控制0.5℃以内，采用四探针法可表征材料升温和降温阶段电阻率随温度变化的特征。
TS400-R-Y 温控探针系列特点
1、可表征材料在升温和降温时段电阻率随温度变化
2、四线法测量材料电阻率，可消除接触电阻影响
3、测量薄膜和块体材料，适用于多种应用场景 升降温速率快，可大幅缩短测试时间 紧凑结构设计，占地空间小
参数规格
项目 | 技术参数 | |
温控参数 | 温度范围 | -196~400℃ |
温度分辨率 | 0.1℃ | |
控温精度 | 0.5℃ | |
加热方式 | 加热棒加热 | |
升温速率 | （1-30）K/min 程序控制 | |
降温速率 | （1-20）K/min 程序控制 | |
电学参数 | 测试物理量 | 变温过程中电阻率连续采集 |
电阻率测试误差 | ≤10% | |
重复测试误差 | ≤3% | |
电阻测量范围 | 1×10-6Ω~ 1×108Ω | |
其它参数 | 真空度 | ≤1Pa |
主机尺寸 | 140m*100mm*60mm | |
整机功率 | 250W | |
主机净重 | 0.8Kg | |
温控器尺寸 | 480mm（W）× 360mm（D）× 160mm（H） | |
测试图谱
采用四探针法测量电阻率
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