便携式泽贝壳系数测量仪

一、应用场景

热电材料目前在半导体制冷和温差发电等领域得到广泛应用，本产品 CCM-3-Y 便携式泽贝壳系数测量仪可以用于一般热电材料的 SEEBECK 系数常温测量，和半导体制冷片的 ZT 值和电阻值测量，是热电材料和器件研究生产的重要工具。

样品塞贝克系数

平均优值系数 Z（1/K）

电阻值测量

物理教学实验

热电材料初步筛选

二、功能和原理介绍

2.1 SEEBECK 系数测试功能（端口 A）

SEEBECK 系数双端探笔，集成了冷探针和热探针。其中热探针包含铜探针、热电偶和加热圈；

测试过程中给 Seebeck 热探针加热，使热探针和冷探针之间始终保持一个固定的温差 T，同时记录冷热探针之间的热电势 V，根据公式即可计算出材料的 Seebeck 系数值；

                     图 2-1 SEEBECK 测试原理图

    图 2-2 塞贝克测试探笔尺寸图

2.2 电阻测量功能（端口 B）

该功能通过四线法测量样品电阻值，避免了探针和样品接触电阻的影响；

并且在测试时可以选择不同的测量模式；

自动模式：测试软件自动选择测试电流，最终测试结果为多组电流和电压值数据拟合结果；

手动模式：采用设定电流值测试样品电阻值；特别针对样品的 IV 曲线测试功能；测试

过程中电流自动切换方向，以减少测试误差。

同时该界面具备恒流源输出和微弱信号采集功能；具体使用方法请参照 4.2 节。

2.3 半导体制冷片参数测量（端口 B）

哈曼法测试原理：给样品通一个恒定的电流值，根据帕尔帖效应热电材料会在两端吸热

和放热，并产生一个温差电压 Vs。当温差和热传导达到平衡时记录此时的电压 Vo，Vo 包含器件电阻的电压 Vr 和 Vs。接着切断电流，Vr 同时消失，而 Vs 逐渐减小。记录此时刻前后电压变化曲线，使用数据分析方法找到 Vr。Vs/Vr 则代表器件的 ZT 值。

                           图 3-1 哈曼法测试原理

三、CCM-3-Y 便携式泽贝壳系数测量仪参数表