TS300N-SV-Y 声速测量冷热台

简要描述：TS300N-SV-Y 声速测量冷热台可以用于搭配声速测量设备，进行声速的变温测量，实现变温范围-80到200℃，同时该型号可衍生用于光谱仪积分球等光学高低温测试场合；

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详细介绍

一、产品简介

TS300N-SV-Y 声速测量冷热台可以用于搭配声速测量设备，进行声速的变温测量，实现变温范围-80到200℃，同时该型号可衍生用于光谱仪积分球等光学高低温测试场合；

二、功能特点

冷热台广泛应用于半导体、生命科学、食品研究、药物研发、地质分析、高分子聚合物、航空航天、冶金、液态晶体、生物学等各种研究领域。

冷热台还可以跟光学显微镜（大多是偏光显微镜）、共聚焦显微镜、激光拉曼、傅里叶红外光谱仪、X射线衍射仪、椭偏仪等设备联合使用，用于材料在变温条件下的研究和表征。

三、TS300N-SV-Y 声速测量冷热台技术参数

3.1、制冷方式：液氮

3.2、温度范围（℃）：-50到300

3.3、显示精度（℃）：0.1

3.4、控温精度：±0.1

3.5、样品区域：直径小于15mm

3.6、最大加热速率：1-50℃/min

3.7、最大冷却速率：13℃/min

3.8、最大功率：100W

3.9、外观尺寸（mm）：79mm*54mm*26mm

3.10、腔体净重：0.4kg

3.11、真空度：无

图1 TS300N-SV-Y 尺寸图

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